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應用案例
半導體芯片測試
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紅外焦平面探測器性能參數測試系統



系統功能

1)依據國標GB/T 17444-2013,實現紅外焦平面探測器電光學參數測試

2)紅外焦平面實時成像、參數分析與圖像顯示

3)可用于紅外焦平面探測器研制過程中的性能評估及生產過程中的性能檢測

技術特點

1)極低噪聲驅動與采集系統,滿足高靈敏度紅外探測器測試要求

2)模塊化設計,可靈活配置與升級

3)高速采集與信號處理能力,支持大面陣高幀頻紅外焦平面探測器實時測試評估

4)專業(yè)測試分析軟件,友好的圖形化操作界面

 


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